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二手HITACHI-SU8010高分辨場發射掃描電鏡場發射掃描電鏡可用于材料分析和研究，特別是材料斷口分析、微區成分分析、各種鍍膜表面形貌分析、層厚測量和顯微組織形貌及納米材料分析等。
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（2）手日本電子JSM-7610Fplus（SEM測試，日本電子JSM-7610FPlus）適用于多種樣品的觀察和分析。實現了分辨率15kV 0.8nm、1kV 1.0nm的進一步提升，以嶄新的JSM-7610FPlus形象亮相。采用半浸沒式物鏡和High Power Optics照明系統，提供穩定的高空間分辨率觀察和分析。此外還具備利用GENTLEBEAMTM模式進行低加速電壓觀察。
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二手sem+edx電鏡掃描電子顯微鏡（SEM）是在各種科學和工業應用中用來以高分辨率檢查樣品表面的強大工具。與傳統光學顯微鏡不同，SEMs使用電子而不是光來產生圖像。在SEM中，將聚焦的電子束掃描過樣品表面，電子與樣品之間的相互作用產生各種信號，被檢測到并轉換成圖像。初級電子束對表面進行高精度掃描，以便對樣品的地形和形態進行詳細檢查。SEM的主要優點之一是能夠實現高分辨率成像。
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二手蔡司冷場電鏡，二手熱場場發射電鏡SUPRA 40是一款高分辨率場發射掃描電子顯微鏡，擁有第三代GEMINI 鏡筒，可變壓強性能加上多種納米工具的使用，不用花費大量時間，使高分辨率成像和非導體樣本的分析成為可能，超大的樣品室適合各種類型探頭及配件的選擇。該場發射電鏡適用于材料領域、失效分析、過程控制，納米技術等。
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二手FEI+JEOL+HITACHI掃描電鏡：掃描電鏡（SEM）是利用電子束掃描樣品表面，產生二次電子等信號，通過檢測這些信號來獲取樣品表面形貌、成分等信息。SEM的優點是分辨率高，可觀察到納米級別的細節，景深大，能清晰呈現三維形貌，可同時進行成分分析。
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二手ZEISS-FEI掃描電鏡掃描電子顯微鏡作為一種強大的微觀分析工具，能夠實現對樣品表面形貌的高分辨率觀察，為材料科學、生物醫學、地質學等多個領域的研究提供了強大的技術支持。以其出色的分辨率和廣泛的放大倍數范圍，能夠滿足不同研究領域的精細觀察需求。
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二手蔡司場發射電鏡，蔡司SUPRA 40VP場發射掃描電子顯微鏡（FESEM）是電子顯微鏡的一種。該儀器具有超高分辨率，能做各種固態樣品表面形貌的二次電子像、反射電子象觀察及圖像處理。該儀器利用二次電子成像原理，在鍍膜或不鍍膜的基礎上，低電壓下通過在納米尺度上觀察生物樣品如組織、細胞、微生物以及生物大分子等，獲得忠實原貌的立體感樣品表面超微形貌結構信息
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二手蔡司電鏡 SEM+EDX+EBSD SUPRA 40是一款高分辨率場發射掃描電子顯微鏡，擁有第三代GEMINI 鏡筒，可變壓強性能加上多種納米工具的使用，不用花費大量時間，使高分辨率成像和非導體樣本的分析成為可能，超大的樣品室適合各種類型探頭及配件的選擇。該場發射電鏡適用于材料領域、失效分析、過程控制，納米技術等。
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二手電鏡sem+edx掃描電鏡分辨率：高真空二次電子像小于3.0nm（30KV） 掃描電鏡放大倍數：5×～1000000×，連續可調 能譜儀分辨率：MnKα峰的半高寬優于127eV； 能譜儀元素測試范圍：Be4— Pu94
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