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維修 AMPTEK硅漂移探測器FAST SDD將硅片制造引入內部,并改進了工藝。其結果是探測器具有更低的噪聲、更低的泄漏電流、更好的電荷收集以及探測器之間的均勻性。這使其成為性能更好的硅漂移探測器。
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AMETEK FAST SDD 檢測器 Amptek推出全新SDD探測器,針對掃描電鏡能譜儀客戶應用(EDS SEM)利用全新技術“C”系列X射線窗口(Si3N4),能夠對低能量區域元素快速響應,新Amptek SDD™可以很好的測試元素碳(C),高效率快速SDD™是EDS光譜儀的方案。
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